本发明公开了一种保偏光纤Verdet常数的测试装置及其方法。测试装置主要包括光源与隔离模块、偏振控制注入模块、磁场及调制模块、精密移动平台、偏振分束器、光电探测器、信号处理模块和峰值检测模块。被测光纤的某一特征轴在出射端与偏振分束器对轴耦合。测试方法将激光器发出的光经偏振控制注入模块变成圆偏振光输入待测光纤，经偏振分束器分为两束光，移动导轨控制磁场的位置，采集两束光强，对两束光强进行处理获取相应的电压信号峰峰值，进一步计算保偏光纤的Verdet常数。本发明简单易操作，在保证最大测量灵敏度的同时，避免了在光纤注入端的对轴操作和角度调整引入的测量误差，且进一步提高了测量精度。