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一种利用光纤干涉仪精密测量宽谱光源平均波长的方法
编号:S000025347 刷新日期: 有效日期至:2021-01-03 浏览:2445 对接邀请:0
意向价格: 面议
所在区域:中国 - 浙江 技术领域:信息通信 - 电子信息及通讯
转让类型:合作研发
专利类型:发明专利 技术成熟度:可以量产
供应描述
本发明公开了一种利用光纤干涉仪精密测量宽谱光源平均波长的方法。测量所用光纤干涉仪为赛格奈克光纤干涉仪,将光纤干涉仪固定安装在转台上,以波长为λ1的He-Ne激光器输出作为光纤干涉仪的光源,转台转速设定±1000°/s,采集光纤干涉仪输出;然后将光纤干涉仪的光源替换为待测宽谱光源,再次采集转台转速为±1000°/s下的光纤干涉仪输出,由两次测试所得的数据计算待测宽谱光源的平均波长λ2。利用精度为1°/h,最大输入角速度±1000°/s的赛格奈克光纤干涉仪和波长稳定性优于1ppm的He-Ne激光器,宽谱光源平均波长的测试精度可达1ppm以下。该测试方法无复杂的机械部件和光学镜头,测试过程简单可靠,测试精度高。
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机构地址:No.490, S.Ning'an Str., Yinchuan,Ningxia 查看地图
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