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基于光频梳校准的双色激光扫描绝对距离测量装置和方法
编号:S000025269 刷新日期: 有效日期至:2020-12-16 浏览:2227 对接邀请:0
意向价格: 面议
所在区域:中国 - 技术领域:信息通信 - 电子信息及通讯
转让类型:技术转让
专利类型:发明专利 技术成熟度:可以量产
供应描述
一种基于光频梳校准的双色激光扫描绝对距离测量装置和方法,装置包括激光光源系统、保偏光纤系统、迈克尔逊干涉系统和激光频率标定系统,控制激光光源系统中的两台可调谐激光器同时连续无跳模地调节输出光频率,激光频率标定系统同时记录迈克尔逊干涉系统的干涉信号和可调谐激光器与光频梳的拍频信号;根据采集数据,计算激光器的扫频范围及在扫描过程中干涉信号的相位变化周期整数和周期小数,最后计算得到待测光路反射面的绝对距离,本发明具有系统结构简单、测量精度高、补偿空气折射率影响、测量结果可溯源等优点,可以适用于空间绝对距离测量领域。
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机构地址:No.490, S.Ning'an Str., Yinchuan,Ningxia 查看地图
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