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> 技术详情
测量低温光纤受激布里渊散射增益谱的装置
编号:S000025069
刷新日期:
有效日期至:
2020-12-13
浏览:
3035
次
对接邀请:
0
次
意向价格:
面议
所在区域:
中国 -
技术领域:
信息通信 - 电子信息及通讯
转让类型:
技术转让
专利类型:
发明专利
技术成熟度:
可以量产
供应描述
一种测量低温光纤受激布里渊散射增益谱的装置,其构成包括连续光纤激光器、光纤隔离器、1×2光纤分束器、双包层光纤放大器、光纤环行器、温度控制系统、单模光纤、2×2端口3dB分束器、带通滤波器、光电探测器、电谱分析仪。本发明利用液氮对光纤进行温度可控的制冷,并采取光外差探测技术测量光纤中受激布里渊散射增益谱,可提高测量精度。本发明具有可实现全光纤化,温度可控,结构紧凑,测量精度高的特点。
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No.490, S.Ning'an Str., Yinchuan,Ningxia
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认证方式:
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