本发明涉及一种基于CVD法合成的单根半导体纳米线热导率的测量方法；属于材料导热性能测量技术领域。本发明取一根采用CVD法于T₁温度下沉积得到的纳米线，将所取纳米线一端固定在碳导电胶上，另一端悬空，悬空部分长度为8-12微米；然后，用垂直于纳米线轴线的聚焦激光束加热悬空端的端部，然后增加聚焦激光束的净输出功率，至悬空端的端部熔融时，停止加热，同时，记录此时聚焦激光束的净输出功率p_∞，然后通过扫描电镜精确测得悬空部分L的长度和直径D；再将所的数据换算成纳米线吸收的激光功率（P_abs），再根据一维方向上的傅里叶热传导方程：计算得出单根纳米线热导率K。本发明无需搭建电极，具有操作简单，成本较低等优势。