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> 技术详情
利用受激布里渊光损耗机制的高精度光谱分析仪
编号:S000021737
刷新日期:
有效日期至:
2020-10-07
浏览:
2443
次
对接邀请:
0
次
意向价格:
面议
所在区域:
中国 - 浙江
技术领域:
智能制造 - 装备制造业
转让类型:
合作研发
专利类型:
发明专利
技术成熟度:
可以量产
供应描述
本发明公开了一种利用全波光纤中受激布里渊光损耗机制的高精度光谱分析仪,利用全波光纤固有的窄受激布里渊散射峰线宽的特性,基于光纤中受激布里渊散射光损耗效应,探测扫描激光器(TLS)的输出光在与待测信号(SUT)光在全波光纤中发生受激布里渊散射相互作用时光功率损耗来进行光谱测量与分析,并由此得到待测信号(SUT)光的超高精度频谱图。在光谱分析过程中,使用恒温装置来消除光纤中受激布里渊散射由于温度改变而引起的频移量(约11GHz)漂移,由此进一步提高光谱分析仪的精度及可靠性,同时创新性地使用温度及驱动电流可调谐的分布反馈式半导体激光器作为波长扫描激光光源,使得光谱分析仪具有低成本,高可靠性和灵活方便的特点。
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No.490, S.Ning'an Str., Yinchuan,Ningxia
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认证方式:
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