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> 技术详情
MgZnO/NPB紫外光探测器及其制作方法
编号:S000021733
刷新日期:
有效日期至:
2021-01-05
浏览:
2474
次
对接邀请:
0
次
意向价格:
面议
所在区域:
中国 -
技术领域:
智能制造 - 装备制造业
转让类型:
合作研发
专利类型:
发明专利
技术成熟度:
可以量产
供应描述
MgZnO/NPB紫外光探测器及其制作方法,属于光电子信息领域,涉及一种MgZnO/NPB紫外光探测器,主要用于产生低偏压、高响应的紫外光探测器。解决了无机宽禁带半导体p型掺杂问题和有机电子迁移率低的问题。该探测器是在石英ITO衬底上生长单相MgxZn1-xO薄膜、NPB薄膜、LiF薄膜和电极。其制作方法为:将石英ITO衬底在MBE预生长室中预处理;在MBE生长室中生长温度为400-500℃下,生长厚度为200-350nm的MgxZn1-xO薄膜,其中X=0.1-0.4;然后传入热蒸发中,在其上生长厚度为50-120nm NPB薄膜;在NPB薄膜上生长厚度为0.5-2nm的LiF电极修饰层;在LiF电极修饰层上制作电极,制作出石英ITO/MgxZn1-xO/NPB/LiF/电极结构的MgZnO/NPB紫外光探测器。
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认证方式:
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