一种用于测试半导体装置的测试设备，包括：一电路板，所述电路板在一侧具有一接触结构及穿过所述电路板的一开口；以及一探针卡，用于支撑一探针阵列，所述探针阵列可插入到所述电路板的所述开口以用于探测一受测试装置，所述探针阵列与所述电路板的所述接触结构电接触，以允许信号通过所述探针卡及所述电路板到达一测试设备。一固持器用于支撑所述探针卡及其他探针卡，所述固持器具有多个侧面，每个侧面可支撑具有探针阵列的一探针卡，所述固持器相对于一受测试装置可旋转以操作及定位所述探针卡的所述探针阵列。所述固持器允许自所述固持器断开连接及替换所述探针阵列。