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一种高迁移率的n型纳米金刚石薄膜及制备方法
编号:S000021662 刷新日期: 有效日期至:2020-12-15 浏览:2244 对接邀请:0
意向价格: 面议
所在区域:中国 - 浙江 技术领域:智能制造 - 装备制造业
转让类型:技术转让
专利类型:发明专利 技术成熟度:可以量产
供应描述
本发明提供了一种高迁移率n型纳米金刚石薄膜及制备方法:采用离子注入方法,在纳米金刚石薄膜中注入较低剂量的杂质离子,然后对薄膜进行700~1000℃下真空退火,即得所述n型纳米金刚石薄膜。本发明所述杂质离子在薄膜中的浓度为1015~1017cm-3,纳米金刚石晶粒尺寸为3~6nm,纳米金刚石晶粒中的缺陷浓度约为1010~1012cm-3;该薄膜为电阻率低、Hall迁移率高的n型纳米金刚石薄膜,对实现纳米金刚石薄膜在半导体器件、场致发射显示器、电化学等领域的应用具有十分重要的科学意义和工程价值。
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机构地址:No.490, S.Ning'an Str., Yinchuan,Ningxia 查看地图
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