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经过改进的用于双镶嵌工艺的间隙填充方法
编号:S000021616
刷新日期:
有效日期至:
2020-12-16
浏览:
2444
次
对接邀请:
0
次
意向价格:
面议
所在区域:
中国 -
技术领域:
智能制造 - 装备制造业
转让类型:
技术转让
专利类型:
发明专利
技术成熟度:
可以量产
供应描述
本发明提供了一种制造半导体器件的方法。该方法包括:形成具有多个第一开口的经图案化的介电层;在经图案化的介电层的上方形成导电衬层,该导电衬层部分地填充第一开口;在第一开口外面的部分导电衬层的上方形成沟槽掩模层,从而形成多个第二开口,第二开口的一个子集形成于第一开口的上方;在第一开口中沉积导电材料以形成多个通孔,以及在第二开口中沉积导电材料以形成多个金属线;以及去除沟槽掩模层。本发明提供经过改进的用于双镶嵌工艺的间隙填充方法。
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机构地址:
No.490, S.Ning'an Str., Yinchuan,Ningxia
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认证方式:
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