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经过改进的用于双镶嵌工艺的间隙填充方法
编号:S000021616 刷新日期: 有效日期至:2020-12-16 浏览:2285 对接邀请:0
意向价格: 面议
所在区域:中国 - 技术领域:智能制造 - 装备制造业
转让类型:技术转让
专利类型:发明专利 技术成熟度:可以量产
供应描述
本发明提供了一种制造半导体器件的方法。该方法包括:形成具有多个第一开口的经图案化的介电层;在经图案化的介电层的上方形成导电衬层,该导电衬层部分地填充第一开口;在第一开口外面的部分导电衬层的上方形成沟槽掩模层,从而形成多个第二开口,第二开口的一个子集形成于第一开口的上方;在第一开口中沉积导电材料以形成多个通孔,以及在第二开口中沉积导电材料以形成多个金属线;以及去除沟槽掩模层。本发明提供经过改进的用于双镶嵌工艺的间隙填充方法。
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机构地址:No.490, S.Ning'an Str., Yinchuan,Ningxia 查看地图
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