本发明公开了一种阵列基板，该阵列基板的像素单元设有测试区域，该像素单元的像素电极在测试区域内通过过孔连接与位于阵列基板表面的第二透明金属层形成的测试块电连接，从而将像素单元的像素电极的测试点引至阵列基板的表面，测试装置可以通过测试每一个像素单元中位于测试区域内的测试块便可得到该像素单元中位于显示区域的像素电极的半导体特性，所以本发明提供的阵列基板能够对每一个像素单元的像素电极进行单独测试，所以能够提高对每一个单独的像素区域中像素电极测试的精确性。本发明还提供了一种阵列基板的制备方法，以及一种包括上述阵列基板的显示装置。