本发明涉及一种使用触点映射对非法装置的识别，其中，揭露一种方法，包含接收计算设备中的装置布局文件，该装置布局文件定义半导体装置中的多个装置结构。接收铸造厂真值表，该铸造厂真值表指定用于计算设备中的制造程序的有效装置结构。通过使用该计算设备来比较该装置布局文件中的装置结构与该铸造厂真值表中的有效装置结构，以指定该装置布局文件中的装置结构为已支持的装置结构。使用该计算设备来指定未对应至用于该制造程序的有效装置结构的该装置布局文件中的装置结构为未支持的装置。使用该计算设备来产生该未支持装置结构的列表。