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微小粒子分析装置及微小粒子分析方法
编号:S000021420 刷新日期: 有效日期至:2020-10-14 浏览:2263 对接邀请:0
意向价格: 面议
所在区域:中国 - 技术领域:智能制造 - 装备制造业
转让类型:科技服务
专利类型:发明专利 技术成熟度:可以量产
供应描述
一种微小粒子分析装置及微小粒子分析方法,该微小粒子分析装置包括:被构造为利用激光束照射在流路中流动的微小粒子的光照射单元,以及被构造为检测由被激光束照射的微小粒子发出的光的检测单元。在该微小粒子分析装置中,光照射单元至少包括由半导体激光器构成的光源,将由光源产生的激光束的光束形状转变成顶帽型光束形状的光纤,以及被构造为向光源提供驱动电流的光源驱动控制单元,该驱动电流通过将高频电流叠加到直流上来获得。
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机构地址:No.490, S.Ning'an Str., Yinchuan,Ningxia 查看地图
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