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> 技术详情
微小粒子分析装置及微小粒子分析方法
编号:S000021420
刷新日期:
有效日期至:
2020-10-14
浏览:
2263
次
对接邀请:
0
次
意向价格:
面议
所在区域:
中国 -
技术领域:
智能制造 - 装备制造业
转让类型:
科技服务
专利类型:
发明专利
技术成熟度:
可以量产
供应描述
一种微小粒子分析装置及微小粒子分析方法,该微小粒子分析装置包括:被构造为利用激光束照射在流路中流动的微小粒子的光照射单元,以及被构造为检测由被激光束照射的微小粒子发出的光的检测单元。在该微小粒子分析装置中,光照射单元至少包括由半导体激光器构成的光源,将由光源产生的激光束的光束形状转变成顶帽型光束形状的光纤,以及被构造为向光源提供驱动电流的光源驱动控制单元,该驱动电流通过将高频电流叠加到直流上来获得。
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机构地址:
No.490, S.Ning'an Str., Yinchuan,Ningxia
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认证方式:
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