本发明公开了一种用于晶片测试的保护装置，属于半导体技术领域。其包括：导电基座，其上设置有探针卡；保护罩，罩设在所述导电基座外围；电缆引出口，设置在所述保护罩上。通过这种方案给被测晶片提供一个安全干净的测试环境，屏蔽了外部电磁干扰、光干扰和粉尘污染，避免被污染致电气性能受损。另外，由于探针卡也置于保护罩这一安全干净环境中，也就避免了在探针针头处积聚灰尘缩短探针的寿命。