本发明公开了一种解析存储器操作类型错误的方法及其装置，属于半导体技术领域，其方法包括：通过建立不同错误类型的操作错误与对应操作电压的对应关系；并在不同的操作电压下对存储器进行操作，获得对所述存储器进行操作时对应的多个操作错误；最后，根据对所述存储器进行操作时对应的多个操作错误，辨析不同操作错误的错误类型。本发明通过上述方法实现了使用一套成体系的方案，从而分析出不同类型的存储器操作错误。