本发明涉及一种测试分选机。根据本发明，提供一种在退均热室的一侧壁面形成空气循环用通道，以将移动于退均热室内的测试托盘上所装载的各半导体元件均匀地恢复为常温或预定温度，并通过配备专门的循环装置而使退均热室内部的空气通过通道进行循环，从而可以提高装备的稳定性及可靠性的技术。