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一种可调制带隙宽度的Fe-Cr-Si系三元非晶薄膜及其制备方法
编号:S000020929
刷新日期:
有效日期至:
2020-11-24
浏览:
2293
次
对接邀请:
0
次
意向价格:
面议
所在区域:
中国 - 辽宁
技术领域:
智能制造 - 装备制造业
转让类型:
技术转让
专利类型:
发明专利
技术成熟度:
可以量产
供应描述
一种可调制带隙宽度的Fe-Cr-Si三元非晶薄膜及其制备方法,属半导体材料技术领域。该薄膜材料具有如下通式:Fe
3
Cr
1
Si
x
,x为8~18;随着x从8增加到18,带隙宽度从0增加到0.65eV,薄膜结构均为非晶态。该薄膜与普通的二元过渡金属硅化物薄膜相比有如下优点:①Fe
3
Cr
1
Si
x
薄膜是一种新型的三元半导体非晶薄膜,可以做到从0到0.65eV较大范围内调制带隙宽度,Cr的作用不单可以影响带隙宽度,而且增加一个组元薄膜的非晶形成能力也会增加;②只要改变组合溅射靶中Fe
3
Cr
1
合金片的个数,即可方便地调整Fe
3
Cr
1
Si
x
薄膜中Si的比例,进而获得不同带隙宽度;③Fe
3
Cr
1
Si
x
薄膜均为非晶态,能够保证成分和性能均匀,有效回避晶态薄膜制备中的晶格失配以及多相混杂等问题。适宜制造近红外探测器等窄带隙半导体器件。
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机构地址:
No.490, S.Ning'an Str., Yinchuan,Ningxia
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认证方式:
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