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> 技术详情
背面接触形成
编号:S000020764
刷新日期:
有效日期至:
2020-12-19
浏览:
2198
次
对接邀请:
0
次
意向价格:
面议
所在区域:
中国 -
技术领域:
智能制造 - 装备制造业
转让类型:
技术转让
专利类型:
发明专利
技术成熟度:
可以量产
供应描述
提供了一种半导体及其形成方法,该半导体包括衬底以及形成在衬底上的多个布线层和多个电介质层,布线层实现电路。电介质层将所述多个布线层中相邻的布线层隔开。第一钝化层形成在所述多个布线层上。第一接触焊盘形成在钝化层中,并且电耦合至电路。布线形成在钝化层上,并且连接至接触焊盘。贯穿硅通道(TSV)贯穿衬底、所述多个布线层、所述多个电介质层、以及钝化层而形成。TSV电连接至形成于钝化层上的布线。除了形成在钝化层上的金属布线所提供的连接以外,TSV与布线层电隔离。
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机构地址:
No.490, S.Ning'an Str., Yinchuan,Ningxia
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认证方式:
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