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背面接触形成
编号:S000020764 刷新日期: 有效日期至:2020-12-19 浏览:2198 对接邀请:0
意向价格: 面议
所在区域:中国 - 技术领域:智能制造 - 装备制造业
转让类型:技术转让
专利类型:发明专利 技术成熟度:可以量产
供应描述
提供了一种半导体及其形成方法,该半导体包括衬底以及形成在衬底上的多个布线层和多个电介质层,布线层实现电路。电介质层将所述多个布线层中相邻的布线层隔开。第一钝化层形成在所述多个布线层上。第一接触焊盘形成在钝化层中,并且电耦合至电路。布线形成在钝化层上,并且连接至接触焊盘。贯穿硅通道(TSV)贯穿衬底、所述多个布线层、所述多个电介质层、以及钝化层而形成。TSV电连接至形成于钝化层上的布线。除了形成在钝化层上的金属布线所提供的连接以外,TSV与布线层电隔离。
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机构地址:No.490, S.Ning'an Str., Yinchuan,Ningxia 查看地图
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