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一种可调制带隙宽度的Fe-Si-Al系三元非晶薄膜及其制备方法
编号:S000020530
刷新日期:
有效日期至:
2020-10-03
浏览:
2376
次
对接邀请:
0
次
意向价格:
面议
所在区域:
中国 - 辽宁
技术领域:
智能制造 - 装备制造业
转让类型:
技术转让
专利类型:
发明专利
技术成熟度:
可以量产
供应描述
一种可调制带隙宽度的Fe-Si-Al三元非晶薄膜及其制备方法,属半导体材料技术领域。此薄膜材料具有如下通式:Fe
(1-x-y)
Si
x
Al
y
,其中:50at.%≤x≤70 at.%,1at.% ≤y≤11at.%,当(x+y)的总量从60 at.%到75 at.%变化时,薄膜的带隙宽度可以从0.45 eV调制到0.65eV,结构均为非晶态。该薄膜有如下优点:①Fe
(1-x-y)
Si
x
Al
y
薄膜是三元半导体非晶薄膜,可从0.45eV到0.65eV较大范围内调制带隙宽度,Al的作用不单可以影响带隙宽度,而且增加一个组元薄膜的非晶形成能力也会增加;②只要改变组合溅射靶中Fe
4
Al
z
合金片的个数和z值,即可方便地调整薄膜中(Si+Al)的总量,进而获得不同带隙宽度;③薄膜保持非晶态,能够保证成分和性能均匀,有效回避晶态薄膜制备中的晶格失配以及多相混杂等问题。适宜制造近红外探测器等窄带隙半导体器件。
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机构地址:
No.490, S.Ning'an Str., Yinchuan,Ningxia
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认证方式:
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