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> 技术详情
一种具有不同切割深度的发光原件切割方法
编号:S000020510
刷新日期:
有效日期至:
2020-12-01
浏览:
2463
次
对接邀请:
0
次
意向价格:
面议
所在区域:
中国 - 安徽
技术领域:
智能制造 - 装备制造业
转让类型:
合作研发
专利类型:
发明专利
技术成熟度:
可以量产
供应描述
本发明提供一种具有不同切割深度的发光原件切割方法,先于半导体衬底表面制作包括多个发光外延单元的发光原件;然后依据各该发光外延单元定义出多个切割道,并于各该切割道上制备间隔排列的多个阻挡层;然后依据各该切割道从正面对所述发光原件发射多个激光脉冲,以于阻挡层下方的发光原件及半导体衬底中形成多个浅切割孔,并于未被阻挡层阻挡的发光原件及半导体衬底中形成多个深切割孔,然后去除各该阻挡层;接着制作电极形成发光单元;最后对所述发光原件进行裂片。本发明既保证了早后续的制程中晶片不容易破裂,又保证了在裂片过程中晶片的破裂效率,提高了晶片的破裂效率;由于有部分浅切割孔,可以降低切割孔对光线的吸收,提高发光效率。
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机构地址:
No.490, S.Ning'an Str., Yinchuan,Ningxia
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认证方式:
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