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> 技术详情
InGaAs红外光探测器
编号:S000020457
刷新日期:
有效日期至:
2020-11-09
浏览:
2245
次
对接邀请:
0
次
意向价格:
面议
所在区域:
中国 -
技术领域:
智能制造 - 装备制造业
转让类型:
合作研发
专利类型:
发明专利
技术成熟度:
可以量产
供应描述
本发明提供了一种InGaAs红外光探测器。该InGaAs红外光探测器包括:半导体衬底,其两面抛光;依次沉积于半导体衬底上表面的下掺杂层、吸收层、上掺杂层、金属光栅层;其中:吸收层为本征掺杂或低浓度掺杂的InGaAs材料;金属光栅层为一维周期性亚波长光栅;下掺杂层和上掺杂层均为掺杂类型相异的重掺杂的InGaAs材料,两者分别与吸收层构成pin结构,从下掺杂层和上掺杂层分别电性连接出该InGaAs红外光探测器的两电极,该两电极引入外加偏压并收集探测信号。本发明InGaAs红外光探测器利用一维周期性金属光栅激发表面等离子体效应和瑞利伍德异常效应,使得可以在不损失吸收率的情况下,增强器件的响应速度。
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机构地址:
No.490, S.Ning'an Str., Yinchuan,Ningxia
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认证方式:
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