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在GaAs纳米线侧壁生长同质量子结构的MBE方法
编号:S000020287 刷新日期: 有效日期至:2020-10-23 浏览:2434 对接邀请:0
意向价格: 面议
所在区域:中国 - 技术领域:智能制造 - 装备制造业
转让类型:技术转让
专利类型:发明专利 技术成熟度:可以量产
供应描述
一种在GaAs纳米线侧壁生长同质量子结构的MBE方法,包括如下步骤:步骤1:取一半导体衬底;步骤2:在该半导体衬底上生长二氧化硅层;步骤3:对生长有二氧化硅层的半导体衬底进行清洗;步骤4:采用自催化的方法,在二氧化硅层上生长纳米线,该纳米线的顶端有一Ga液滴;步骤5:采用高As压处理消耗纳米线顶端的Ga液滴,抑制顶端的纳米线的VLS生长,形成基片;步骤6:在低As压的环境中,在基片上淀积Ga液滴;步骤7:在As的环境中,在基片上纳米线的侧壁上,As与Ga液滴结合晶化形成量子环或者量子点。
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机构地址:No.490, S.Ning'an Str., Yinchuan,Ningxia 查看地图
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