本发明涉及老化测试设备。根据本发明，将公开如下技术，即，测试板将至少属于同一列的插座布置在一个传送线路组上，并采用飞跃式结构，以使测试信号顺序地施加到半导体元件，测试基板产生用于准确地抽样从半导体元件反馈的结果信号的闪控信号，从而在高速处理时，也能够实现准确的数据抽样。