本发明涉及一种用于老化测试设备的测试板。根据本发明公开了如下技术：至少将属于同一列的插座布置在一个传送线路组上，采用飞越式结构，从而能够使测试信号依次施加到所选择的半导体元件，并具有考虑了装载半导体元件时的阻抗降低的电路，由此能够进行高速处理。