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> 技术详情
一种AlN晶体的制备方法
编号:S000020150
刷新日期:
有效日期至:
2020-10-22
浏览:
2496
次
对接邀请:
0
次
意向价格:
面议
所在区域:
中国 - 黑龙江
技术领域:
智能制造 - 装备制造业
转让类型:
科技服务
专利类型:
发明专利
技术成熟度:
可以量产
供应描述
一种AlN晶体的制备方法,它涉及一种晶体的制备方法。本发明要解决现有采用PVT法制备AlN单晶的方法中,异质籽晶与AlN晶体的晶格失配较大,得到AlN晶体缺陷密度高的问题。方法:一、将AlN粉末置于坩埚中、将籽晶固定在坩埚顶部,在氮气气氛下,升温至1800~2000℃,保温1~5小时;二、将预烧结后的AlN粉末在氮气气氛中加热升温至2150~2300℃,保温反应8~20小时,降至室温。零微管SiC作为异质籽晶,可以降低AlN晶体的缺陷密度,同时由于偏角度SiC籽晶偏离面一定角度,缺陷遗传的几率也将显著降低,从而最终减少缺陷对器件性能的不利影响。本发明的AlN晶体用于半导体器件。
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机构地址:
No.490, S.Ning'an Str., Yinchuan,Ningxia
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认证方式:
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