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CMOS管的形成方法
编号:S000019951 刷新日期: 有效日期至:2020-12-23 浏览:2536 对接邀请:0
意向价格: 面议
所在区域:中国 - 技术领域:智能制造 - 装备制造业
转让类型:科技服务
专利类型:发明专利 技术成熟度:可以量产
供应描述
一种CMOS管的形成方法,包括:提供半导体衬底,半导体衬底包括NMOS区域和与其相隔PMOS区域,NMOS区域形成有第一伪栅极结构和第一源/漏区,PMOS区域形成有第二伪栅极结构和第二源/漏区,且PMOS区域的半导体衬底、第二源/漏区和第二伪栅极结构表面覆盖有第一掩膜层;以第一掩膜层为掩膜,形成覆盖第一源/漏区表面的第一金属硅化物层;形成第一金属硅化物层后,去除所述第一掩膜层;形成位于所述半导体衬底表面的层间介质层,层间介质层与第一伪栅极结构和第二伪栅极结构表面齐平;刻蚀层间介质层,暴露出部分第二源/漏区表面的开口;通过开口在第二源/漏区表面形成第二金属硅化物层。形成的CMOS管的性能稳定。
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机构地址:No.490, S.Ning'an Str., Yinchuan,Ningxia 查看地图
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