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氮化硅与氮氧化硅的等离子体处理
编号:S000019856
刷新日期:
有效日期至:
2020-11-11
浏览:
2240
次
对接邀请:
0
次
意向价格:
面议
所在区域:
中国 -
技术领域:
智能制造 - 装备制造业
转让类型:
合作研发
专利类型:
发明专利
技术成熟度:
可以量产
供应描述
本文公开一种形成半导体器件的方法。层间介电质(inter-poly dielectric;IPD)层叠的氮层是使用硅烷与氮等离子体沉积而产生氮化物层,所述氮化物层在所述层整个厚度上皆受到等离子体处理。除了氮化所述层叠的底部氮化物层之外,也氮化中间的氮化物层。在氮等离子体中由硅烷沉积硅可以通过使用高密度等离子体、ALD或远程等离子体工艺完成。在沉积期间可使用升高的温度以减少沉积层中残余的氢。
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No.490, S.Ning'an Str., Yinchuan,Ningxia
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认证方式:
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