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NMOS晶体管及其形成方法、SRAM存储单元电路
编号:S000019775 刷新日期: 有效日期至:2020-10-07 浏览:2290 对接邀请:0
意向价格: 面议
所在区域:中国 - 技术领域:智能制造 - 装备制造业
转让类型:合作研发
专利类型:发明专利 技术成熟度:可以量产
供应描述
一种NMOS晶体管及其形成方法、SRAM存储单元电路,所述NMOS晶体管包括:半导体衬底,位于所述半导体衬底表面的栅极结构,位于所述栅极结构侧壁的侧墙,位于所述栅极结构两侧的半导体衬底内的源区和漏区,位于所述源区或漏区上的拉伸应力层。由于所述拉伸应力层位于源区上或位于漏区上,使得沟道区受到的拉伸应力不均匀对称,使得所述NMOS晶体管的不同电流方向的饱和源漏电流不同。利用所述NMOS晶体管作为SRAM存储单元电路的传输晶体管,从而在不降低SRAM存储单元的读取裕度的同时,提高SRAM存储单元的写入裕度,从而可以提高SRAM存储单元的读写稳定性。
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机构地址:No.490, S.Ning'an Str., Yinchuan,Ningxia 查看地图
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