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为沟槽MOS和SGT制备沟槽多晶硅静电放电
编号:S000019699 刷新日期: 有效日期至:2020-10-13 浏览:2357 对接邀请:0
意向价格: 面议
所在区域:中国 - 技术领域:智能制造 - 装备制造业
转让类型:合作研发
专利类型:发明专利 技术成熟度:可以量产
供应描述
本发明提出了一种半导体器件及其制备方法。用半导体材料部分填充形成在半导体衬底中的沟槽,使半导体材料布满沟槽的底部和边缘,同时在沟槽中间沿沟槽的长度方向保留一个缝隙。半导体材料的第一部分位于缝隙下方,用第一导电类型的掺杂物掺杂第一部分。用电介质材料填充缝隙。半导体材料的第二部分位于电介质材料两边的沟槽边缘上,用第二导电类型的掺杂物掺杂。掺杂构成一个沿沟槽长度方向延伸的P-N-P或N-P-N结构,不同的掺杂区并排分布在沟槽的整个宽度上。
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机构地址:No.490, S.Ning'an Str., Yinchuan,Ningxia 查看地图
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