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> 技术详情
晶体管的形成方法
编号:S000019623
刷新日期:
有效日期至:
2020-10-22
浏览:
2597
次
对接邀请:
0
次
意向价格:
面议
所在区域:
中国 -
技术领域:
智能制造 - 装备制造业
转让类型:
科技服务
专利类型:
发明专利
技术成熟度:
可以量产
供应描述
一种晶体管的形成方法,包括:提供半导体衬底,所述半导体衬底表面形成有栅极结构;在紧邻所述栅极结构两侧的半导体衬底内进行离子注入,形成离子注入区,所述离子注入区的部分延伸至栅极结构下方的半导体衬底内;采用干法刻蚀工艺去除半导体衬底内的所述离子注入区,形成开口;采用湿法刻蚀工艺刻蚀所述开口,使所述开口向栅极结构下方延伸;在湿法刻蚀后,在所述开口内形成应力衬垫层。由所述晶体管的形成方法所形成的晶体管的载流子的迁移率提高,漏电流降低,晶体管的性能提高,可靠性增强。
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No.490, S.Ning'an Str., Yinchuan,Ningxia
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认证方式:
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