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> 技术详情
用于半导体器件的基于目标的虚拟插入
编号:S000019503
刷新日期:
有效日期至:
2020-10-15
浏览:
2229
次
对接邀请:
0
次
意向价格:
面议
所在区域:
中国 -
技术领域:
智能制造 - 装备制造业
转让类型:
合作研发
专利类型:
发明专利
技术成熟度:
可以量产
供应描述
本公开提供了用于基于目标的虚拟插入的集成电路方法。一种方法包括提供集成电路(IC)设计布局;以及提供用于仿真IC设计布局上的热效应的热模型,热模型包括光学仿真和硅校验。该方法还包括:提供热模型和IC设计布局的卷积以生成IC设计布局的热图像轮廓;限定用于在热图像轮廓中优化热均匀性的热目标;将热目标与热图像轮廓进行比较以确定差异数据;以及基于差异数据对IC设计布局执行热虚拟插入,以提供基于目标的IC设计布局。
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机构地址:
No.490, S.Ning'an Str., Yinchuan,Ningxia
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认证方式:
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