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用于半导体器件的基于目标的虚拟插入
编号:S000019503 刷新日期: 有效日期至:2020-10-15 浏览:2229 对接邀请:0
意向价格: 面议
所在区域:中国 - 技术领域:智能制造 - 装备制造业
转让类型:合作研发
专利类型:发明专利 技术成熟度:可以量产
供应描述
本公开提供了用于基于目标的虚拟插入的集成电路方法。一种方法包括提供集成电路(IC)设计布局;以及提供用于仿真IC设计布局上的热效应的热模型,热模型包括光学仿真和硅校验。该方法还包括:提供热模型和IC设计布局的卷积以生成IC设计布局的热图像轮廓;限定用于在热图像轮廓中优化热均匀性的热目标;将热目标与热图像轮廓进行比较以确定差异数据;以及基于差异数据对IC设计布局执行热虚拟插入,以提供基于目标的IC设计布局。
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机构地址:No.490, S.Ning'an Str., Yinchuan,Ningxia 查看地图
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