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W型光纤束及使用W型光纤束的半导体薄膜光学测量系统
编号:S000019445 刷新日期: 有效日期至:2020-11-02 浏览:2378 对接邀请:0
意向价格: 面议
所在区域:中国 - 技术领域:智能制造 - 装备制造业
转让类型:技术转让
专利类型:发明专利 技术成熟度:可以量产
供应描述
本发明公开一种W型光纤束,包括:第I子光纤,第II子光纤,第III子光纤和第IV子光纤;所述第I子光纤与所述第II子光纤共用输入端口;所述第III子光纤和所述第IV子光纤共用输出端口;所述第II子光纤的输出端口和所述第III子光纤的输入端口捆绑连接,形成输入输出端口;所述第I子光纤和第Ⅳ子光纤的另一端分别连接一光纤端口;所述第I子光纤,第II子光纤,第III子光纤和第IV子光纤构成W型光纤束。还公开一种使用W型光纤束的半导体薄膜光学测量系统。本发明能减少系统光源和光谱计的数量,提高测量精度的同时达到降低系统成本的效果。
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机构地址:No.490, S.Ning'an Str., Yinchuan,Ningxia 查看地图
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