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一种极低温下半导体量子点低噪测量系统
编号:S000019374 刷新日期: 有效日期至:2021-01-03 浏览:2454 对接邀请:0
意向价格: 面议
所在区域:中国 - 安徽 技术领域:智能制造 - 装备制造业
转让类型:科技服务
专利类型:发明专利 技术成熟度:可以量产
供应描述
一种极低温下半导体量子点低噪测量系统,包括:热沉部分、铜粉滤波器和PCB板载滤波器;热沉部分由制冷机PT1层线夹热沉、PT2层线夹热沉、Still层线夹热沉、100mK层线夹热沉和MC层线夹热沉构成;测量和控制线进入热沉部分后依次通过制冷机PT1层线夹热沉、制冷机PT2层线夹热沉、制冷机Still层线夹热沉、制冷机100mK层线夹热沉和制冷机MC层线夹热沉后至制冷机混合室冷板,经过制冷机混合室最后一级冷板后焊接在D型接口上,D型接口与铜粉滤波器的D型接口入口相连;测量和控制线再经过铜粉滤波器后,由铜粉滤波器的D型接口出口离开,通过一段测量和控制线后,排针接口进入PCB板载滤波电路,最后测量和控制线连接到量子点测量样品相应的电极上。本发明降低了热噪声和电路噪声。
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机构地址:No.490, S.Ning'an Str., Yinchuan,Ningxia 查看地图
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