本发明涉及半导体元件检查装置用连接器。根据本发明公开一种如下技术，即具备板状的接地板，进一步地，接地板的末端相比多个连接销的末端进一步朝母连接器侧突出，从而能够引导较细的销状的多个连接销的接触，由此可以防止多个连接销的损伤。