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填充间隙的填料、其制备方法及制造半导体电容器的方法
编号:S000019292 刷新日期: 有效日期至:2020-11-04 浏览:2276 对接邀请:0
意向价格: 面议
所在区域:中国 - 技术领域:智能制造 - 装备制造业
转让类型:技术转让
专利类型:发明专利 技术成熟度:可以量产
供应描述
本发明公开了一种填充间隙的填料、其制备方法及制造半导体电容器的方法。所述填充间隙的填料包含由下列化学式1表示的化合物:[化学式1]SiaNbOcHd在化学式1中,1.96<a<2.68,1.78<b<3.21,0≤c<0.19,且4<d<10。
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