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一种半导体片材的表面缺陷及厚度检测方法及装置
编号:S000019195 刷新日期: 有效日期至:2020-09-26 浏览:2221 对接邀请:0
意向价格: 面议
所在区域:中国 - 江苏 技术领域:智能制造 - 装备制造业
转让类型:科技服务
专利类型:发明专利 技术成熟度:可以量产
供应描述
一种半导体片材的表面缺陷及厚度检测方法及装置,属于材料表面缺陷及厚度的检测方法及装置。所述装置采取的具体技术方案是:装置包括工装、控制柜、计算机和连接缆线;工装、控制柜、计算机通过连接缆线顺序连接。所述装置的检测原理:利用绿色激光的透射原理间接反馈平面片材的高度值信号,通过一系列公式计算出半导体片材的表面缺陷及厚度。所述检测方法包括:测试平台水平校准方法、激光发生器和激光接收器同步运行的方法、半导体片材表面缺陷及厚度的检测方法,半导体片材表面缺陷及厚度的计算方法。该检测装置简单、实用、易于操作、检测精度高、重复性好、样品要求低、杂质及污染影响小,非常适合科研需求。
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机构地址:No.490, S.Ning'an Str., Yinchuan,Ningxia 查看地图
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