一种实作随机逻辑功能的基于半导体的测试装置，包含多个测试丛集及耦接至该等该测试丛集的假随机总体刺激来源。各个测试丛集均包含多个数据缓存器及逻辑组件，该逻辑组件是组构以实施用来产生用于该多个数据缓存器的测试数据的随机逻辑功能。该假随机总体刺激来源产生用于该逻辑组件的假随机二元刺激。至少一些该多个测试丛集是耦接在一起，以支持数据缓存器输出的丛集间扇出扇入。