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半导体器件的数值仿真数据处理方法和装置
编号：S000019141
刷新日期：
有效日期至：
2020-10-20
浏览：
2263
次
对接邀请：
0
次
意向价格：
面议
所在区域：
中国 - 江苏
技术领域：
智能制造 - 装备制造业
转让类型：
科技服务
专利类型：
发明专利
技术成熟度：
可以量产
供应描述
本发明提供了一种半导体器件的数值仿真数据处理方法和装置。该方法在Polsky半隐式方法的基础上，在迭代中增加了对电子浓度n
t+1
、空穴浓度p
t+1
修正步骤。其计算量小，并且提高了数值的精度与仿真的稳定性。
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No.490, S.Ning'an Str., Yinchuan,Ningxia
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认证方式：
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