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半导体器件的数值仿真数据处理方法和装置
编号:S000019141
刷新日期:
有效日期至:
2020-10-20
浏览:
2415
次
对接邀请:
0
次
意向价格:
面议
所在区域:
中国 - 江苏
技术领域:
智能制造 - 装备制造业
转让类型:
科技服务
专利类型:
发明专利
技术成熟度:
可以量产
供应描述
本发明提供了一种半导体器件的数值仿真数据处理方法和装置。该方法在Polsky半隐式方法的基础上,在迭代中增加了对电子浓度n
t+1
、空穴浓度p
t+1
修正步骤。其计算量小,并且提高了数值的精度与仿真的稳定性。
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No.490, S.Ning'an Str., Yinchuan,Ningxia
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