本发明公开了一种测试信号供应设备和半导体集成电路。该测试信号供应设备包括：第一外部端子；第二外部端子，该第二外部端子被施加有预定电势；内部负载；第一端子，该第一端子通过内部负载连接到第一外部端子；第二端子，该第二端子在不通过内部负载的情况下连接到第一外部端子；测试信号生成部，该测试信号生成部生成测试信号，并且将测试信号供应到第二端子；检测部，该检测部检测测试信号的幅度；以及控制部，该控制部基于检测到的测试信号的幅度来测量连接到第一外部端子和第二外部端子的外部负载的阻抗。