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一种超薄半导体晶片的制作方法
编号:S000019083 刷新日期: 有效日期至:2020-09-30 浏览:2416 对接邀请:0
意向价格: 面议
所在区域:中国 - 湖北 技术领域:智能制造 - 装备制造业
转让类型:科技服务
专利类型:发明专利 技术成熟度:可以量产
供应描述
本发明涉及一种超薄半导体晶片的制作方法,所述方法包括:在晶片(1)表面通过涂胶机制作聚酰亚胺涂层(2);用贴片机将载片(3)和步骤1)所得晶片(1)粘合在一起;在氮气(4)的气氛下,将所得晶片(1)和载片(3)通过加热沾为一体;将所得沾有晶片(1)的载片(3)通过沾片工艺沾在另一个载具上进行减薄和抛光;将所得沾有晶片(1)的载片(3)通过在去蜡液或CCl4中浸泡从载具上自动卸落;在所得沾有晶片(1)的抛光面上直接淀积SiO2或SiNx介质绝缘膜或沉积金属膜;将所得沾有晶片(1)的载片(3)浸入N-甲基吡咯烷酮或PGremover溶液中加热到50~80℃,以使晶片(1)和载片(3)脱离。本发明方法不仅可避免反复卸片和沾片的繁琐,节约工时,工艺简单,还可以避免卸片和沾片时可能出现的InP或GaAs薄片破碎问题。
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机构地址:No.490, S.Ning'an Str., Yinchuan,Ningxia 查看地图
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