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> 技术详情
半导体器件的形成方法、鳍式场效应管的形成方法
编号:S000019001
刷新日期:
有效日期至:
2020-12-22
浏览:
2340
次
对接邀请:
0
次
意向价格:
面议
所在区域:
中国 -
技术领域:
智能制造 - 装备制造业
转让类型:
合作研发
专利类型:
发明专利
技术成熟度:
可以量产
供应描述
一种半导体器件的形成方法,包括:提供半导体衬底,所述半导体衬底表面具有支撑部;形成位于所述支撑部侧壁的可流动层;在形成所述可流动层后,去除所述支撑部;去除所述支撑部后,对所述可流动层进行处理,形成侧壁平坦的侧墙。后续以所述侧壁平坦的侧墙为掩膜,刻蚀所述半导体衬底,形成鳍式场效应管时,形成的鳍部的尺寸沿半导体衬底表面方向的精准度高,质量好,鳍式场效应管的性能稳定。
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No.490, S.Ning'an Str., Yinchuan,Ningxia
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认证方式:
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