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半导体二维电子气圆偏振自旋光电流的检测系统及其检测方法
编号:S000019000 刷新日期: 有效日期至:2020-11-11 浏览:2105 对接邀请:0
意向价格: 面议
所在区域:中国 - 江苏 技术领域:智能制造 - 装备制造业
转让类型:技术转让
专利类型:发明专利 技术成熟度:可以量产
供应描述
本发明公开了半导体二维电子气圆偏振自旋光电流的检测系统及其检测方法,检测系统包括单色圆偏振光源、半导体二维电子气样品、压电陶瓷片、高压交流信号源、锁相放大器和电阻;所述单色圆偏振光源斜照射半导体二维电子气样品;所述压电陶瓷片对半导体二维电子气样品施加周期性变化的应力;所述高压交流信号源向压电陶瓷片提供驱动电压;所述电阻与半导体二维电子气样品串联成一个回路;所述锁相放大器检测流经电阻的电流。本发明的检测灵敏度高,增强了CPGE技术的可靠性与优越性。
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机构地址:No.490, S.Ning'an Str., Yinchuan,Ningxia 查看地图
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