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> 技术详情
半导体结构及其制造方法
编号:S000018979
刷新日期:
有效日期至:
2020-11-13
浏览:
2228
次
对接邀请:
0
次
意向价格:
面议
所在区域:
中国 -
技术领域:
智能制造 - 装备制造业
转让类型:
技术转让
专利类型:
发明专利
技术成熟度:
可以量产
供应描述
本发明公开了一种半导体结构及其制造方法,其结构包括一衬底、一第一叠层结构、以及一第一导电层。第一叠层结构形成于衬底上,第一叠层结构包括一导电结构和一绝缘结构,导电结构是设置邻接于绝缘结构。第一导电层形成于衬底上并围绕第一叠层结构的两侧壁和部份顶部,以暴露出第一叠层结构的一部分。
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No.490, S.Ning'an Str., Yinchuan,Ningxia
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