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> 技术详情
铜互连结构的制造方法及半导体结构
编号:S000018921
刷新日期:
有效日期至:
2020-12-30
浏览:
2438
次
对接邀请:
0
次
意向价格:
面议
所在区域:
中国 -
技术领域:
智能制造 - 装备制造业
转让类型:
技术转让
专利类型:
发明专利
技术成熟度:
可以量产
供应描述
本发明提供了一种铜互连结构的制造方法及半导体结构,其中,所述铜互连结构的制造方法包括:提供第一晶圆,所述第一晶圆上形成有第一氧化硅层,所述第一氧化硅层中形成有第一氮化硅层,所述第一氮化硅层中形成有第一铜线;提供第二晶圆,所述第二晶圆上形成有第二氧化硅层,所述第二氧化硅层中形成有第二铜线;将所述第一氧化硅层及第二氧化硅层键合在一起,所述第一铜线和所述第二铜线形成铜互连结构。本发明中的铜互连结构的制造方法及半导体结构能够防止键合工艺所形成的铜互连结构脱落。
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No.490, S.Ning'an Str., Yinchuan,Ningxia
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认证方式:
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