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> 技术详情
一种量子阱半导体及其制造方法
编号:S000018907
刷新日期:
有效日期至:
2020-10-14
浏览:
2479
次
对接邀请:
0
次
意向价格:
面议
所在区域:
中国 - 湖南
技术领域:
智能制造 - 装备制造业
转让类型:
合作研发
专利类型:
发明专利
技术成熟度:
可以量产
供应描述
本发明提供了一种量子阱半导体及其制造方法。该量子阱半导体包括从内向外依次设置的衬底、浅量子阱层、多量子阱发光层,浅量子阱层包括:至少四个InGaN层,靠近衬底的一个InGaN层为第一InGaN层;GaN层,与InGaN层等数量且交叉叠置,靠近衬底的一个GaN层为第一GaN层,第一GaN层设置在衬底与第一InGaN层之间,且第一InGaN层中In的含量为1.95E+19~2.7E+19cm
-3
,第一InGaN层之外的各InGaN层中In的含量大于3.0E+19cm
-3
且沿远离衬底的方向递增。该浅量子阱层可以防止反向电流过大,有利于电子通过降低正向电压,减少芯片工作时发热量,提高发光效率。
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No.490, S.Ning'an Str., Yinchuan,Ningxia
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认证方式:
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