本发明提供一种大功率半导体器件开通特性试验装置，包括恒流源单元、试验主电路单元、加热回路单元和保护回路单元；恒流源单元输出直流电流对可调电容器C进行充电，可调电容器C充电到试验电压，其放电与可调电抗器L谐振产生试验电流，实现大功率半导体器件在不同工作条件下的开通试验，加热回路单元对大功率半导体器件加热到试验结温，保护回路单元防止试验对大功率半导体器件损坏。本发明可以对被试大功率半导体器件在不同条件下进行开通试验，该装置拓扑结构简单实用，功能全面，能够满足各种条件下器件开通特性测试要求，同时充分考虑了故障情况下装置与被试器件的保护措施，可靠性高。