一种肖特基半导体元件的检测方法。涉及对肖特基半导体元件电性能的检测方法。提供了一种能够自动实现优劣判断，进而提高产品质量检验效率及检验精度的肖特基半导体元件的检测方法。本发明的方法按以下步骤进行：1）、测合格品比较值；2）、测不不合格品比较值；3）、对被检测品进行检测；4）、比较被测品因变量D和合格品应变量d，D＜d时为合格品，其余为不合格品。本发明首先利用合格品测定合格比较值，即合格应变量；然后利用不合格品测定异常曲线上线点；最后，对批量产品进行伏安特性检测，获得多个电压数值，对多个电压数值进行应变量计算，取其中最大应变量与合格应变量进行比较；最终判断产品合格与否。