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> 技术详情
具有隔离结构的半导体衬底及其制备方法
编号:S000018786
刷新日期:
有效日期至:
2020-12-29
浏览:
2373
次
对接邀请:
0
次
意向价格:
面议
所在区域:
中国 -
技术领域:
智能制造 - 装备制造业
转让类型:
技术转让
专利类型:
发明专利
技术成熟度:
可以量产
供应描述
本发明涉及一种实现集成电路隔离的方法,更确切的说,本发明旨在提供一种具有隔离结构的半导体衬底及其制备方法。在半导体衬底中形成沟槽,并在沟槽侧壁和底部上覆盖介质层,在沟槽底部的介质层上开设开口,将填充材料填充在沟槽内并掺杂有高浓度掺杂物,透过开口将掺杂物扩散至沟槽底部附近的半导体衬底内形成扩散区,隔离结构包含了填充材料及介质层和扩散区。
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