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具有隔离结构的半导体衬底及其制备方法
编号:S000018786 刷新日期: 有效日期至:2020-12-29 浏览:1993 对接邀请:0
意向价格: 面议
所在区域:中国 - 技术领域:智能制造 - 装备制造业
转让类型:技术转让
专利类型:发明专利 技术成熟度:可以量产
供应描述
本发明涉及一种实现集成电路隔离的方法,更确切的说,本发明旨在提供一种具有隔离结构的半导体衬底及其制备方法。在半导体衬底中形成沟槽,并在沟槽侧壁和底部上覆盖介质层,在沟槽底部的介质层上开设开口,将填充材料填充在沟槽内并掺杂有高浓度掺杂物,透过开口将掺杂物扩散至沟槽底部附近的半导体衬底内形成扩散区,隔离结构包含了填充材料及介质层和扩散区。
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机构地址:No.490, S.Ning'an Str., Yinchuan,Ningxia 查看地图
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