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硅台面半导体器件的PN结保护方法
编号:S000018763
刷新日期:
有效日期至:
2020-11-13
浏览:
2178
次
对接邀请:
0
次
意向价格:
面议
所在区域:
中国 - 江苏
技术领域:
智能制造 - 装备制造业
转让类型:
科技服务
专利类型:
发明专利
技术成熟度:
可以量产
供应描述
硅台面半导体器件的PN结保护方法,涉及半导体器件的PN结保护工艺技术领域,在完成了扩散工序的硅片表面采用气相沉积法覆盖SIPOS薄膜,并采用掩膜的方法,去除多余的SIPOS薄膜,只在PN结表面保留SIPOS薄膜;再将玻璃粉的稀释混合液涂敷在硅片表面,低温焙烧后,去除多余的玻璃粉,再将硅片置于扩散炉内,在O
2
气氛中烧结。本发明采用半绝缘多晶硅(SIPOS)叠加玻璃钝化膜代替传统单一的玻璃钝化膜直接对台面半导体器件进行PN结表面保护的工艺方法,以提高钝化效果。
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No.490, S.Ning'an Str., Yinchuan,Ningxia
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认证方式:
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