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金属氧化半导体P-N接面二极管及其制作方法
编号:S000018744 刷新日期: 有效日期至:2021-01-03 浏览:2389 对接邀请:0
意向价格: 面议
所在区域:中国 - 技术领域:智能制造 - 装备制造业
转让类型:合作研发
专利类型:发明专利 技术成熟度:可以量产
供应描述
本发明公开一种具快速反应速度的金属氧化半导体P-N接面二极管及其制作方法。该二极管包含有半导体基板、掩模层、环形边缘层、栅极氧化层、多晶硅结构、中心导接层、氮化硅层、金属扩散层、通道区域以及金属溅镀层。而该方法包含下列步骤:在半导体基板上形成掩模层;在半导体基板上形成栅极氧化层,并于其上形成多晶硅结构;以离子注入制作工艺于半导体基板中形成环形边缘层、中心导接层、通道区域;在中心导接层的部分表面上形成凸出多晶硅结构的氮化硅层;在环形边缘层和中心导接层的内部形成金属扩散层;以及形成金属溅镀层并露出掩模层的部分表面。
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机构地址:No.490, S.Ning'an Str., Yinchuan,Ningxia 查看地图
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